產(chǎn)品列表 / products
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簡要描述：設(shè)計用于測量背向反射（回損）對轉(zhuǎn)發(fā)器原型影響的可變背向反射器。
產(chǎn)品型號：
所屬分類：光電常用設(shè)備
更新時間：2024-12-16
設(shè)計用于測量背向反射（回損）對轉(zhuǎn)發(fā)器原型影響的可變背向反射器。
主要優(yōu)點
55 dB反射范圍
輕松的實時操作
OSICS平臺內(nèi)的單插槽模塊
應(yīng)用
模擬非配對連接器的累積反射
回損測量校準(zhǔn)
元器件測試
激光器開發(fā)和生產(chǎn)
OTDR測試
描述
EXFO的OSICS BKR可變背反射器可模擬光纖系統(tǒng)內(nèi)所有光接口上的反射率。它是測試背向反射對應(yīng)答器原型造成的影響，以及在PON/WDM系統(tǒng)中對發(fā)射器和接收器進行壓力測試的完美研發(fā)工具。
大反射范圍
OSICS BKR集成有可變反射器，它可設(shè)置為3至55 dB，并在很大的波長范圍內(nèi)工作。其大反射范圍使您能夠采用單臺儀表涵蓋任何設(shè)置。
輕松的實時操作
可在用戶友好的前面板顯示屏上實時調(diào)整或讀取反射率。
新增功能
EXFO的OSICS模塊配備多個出色的功能，包括遠程命令、高性能可調(diào)諧激光源、光開關(guān)以及能夠容納多達8個模塊等。
